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    深能级瞬态谱测试仪

    深能级瞬态谱仪(DLTS)是检测半导体材料和器件缺陷和杂质的最好技术手段，它可以测定各种深能级相关参数，如深能级，俘获界面，浓度分布等。

    更新日期：2024-09-26
    型号：
    厂商性质：生产厂家
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