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该检测器 是一种高性能的分光光度计 ，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围
●非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 ●采用分光干涉法实现高度检测再现性 ●可进行高速的即时研磨检测 ●可穿越保护膜、观景窗等中间层的检测 ●可对应长工作距离、且容易安裝于产线或者设备中 ●体积小、省空間、设备安装简易 ●可对应线上检测的外部信号触发需求 ●采用最适shi合膜厚检测的独自解析演算法。(已取得专zhuan利) ●可自动进行膜厚分布制图(选配项目)
MINUK是一种可以评估纳米量级的透明异物和缺陷的设备，可以单次获取高度方向的信息，并且可以无损、非接触、非侵入性地进行测量。 此外，还可以高速扫描任何表面并确定测量位置，而无需对焦。
本产品为粒径及zeta电位测量专用装置。ELSZneoSE选择了ELSZneo的新功能。 根据用途，可以根据需要定制任意数量的必要功能。
● 可根据用途增加功能(分子量测定、粒子浓度测定、微流变测定、凝胶网眼结构分析、粒径多角度测定) ● 可以用标准流动池连续测量粒径和zeta电位 ● 可以测量从稀薄到浓厚溶液(~40% )的广泛浓度范围的粒径zeta电位 ● 可以在高盐浓度下测定平板状样品的zeta电位 ● 可在0~90℃的广阔温度范围内进行测量 ● 通过温度梯度功能，可对蛋白质等的变性及相变温度进行解析
ELSZ series的最zu高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。 全新的zeta电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。
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