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薄膜到厚膜的测量范围 UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪 藉由绝对反射率光谱分析膜厚 完整继承FE-3000高gao端机种90%的强大功能 无复杂设定，操作简单
可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。
●全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 ●硬件&软件均为创新设计 ●作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 ●实现高精度测量（已取得专zhuan利） ●实现高速测量（500万点以上/分）
●采用线扫描方式检测整面薄膜 ●硬件&软件均为创新设计 ●作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 ●实现高精度测量（已获取专zhuan利） ●实现高速测量 ●不受偏差影响 ●可对应宽幅样品（TD方向最大可测量10m）
●通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量 ●从配光上评估紫外光的最大发光强度、光束开度、光束光通量 ●涵盖从紫外线到可见光的波长范围 ●支持从 LED 芯片到模块和应用产品的广泛样品 ●用软件批量控制电源和测量仪器
●该检测器是一种高性能的分光光度计，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等方面取得了多项成果。 ●覆盖从紫外线到可见光的宽波长范围 ●带软件的样品照明电源，测量仪器批量控制 ●LIV测量，脉冲点测量，样品温控测量 ●设备校准的标准灯由我们自己的部门提供，并由 JCSS 校准公司注册。
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