测量精度高可瞬间测量绝对量子效率（绝对量子收率）可去除再激励荧光发光 采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系统

薄膜到厚膜的测量范围UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪藉由绝对反射率光谱分析膜厚完整继承FE-3000高gao端机种90%的强大功能无复杂设定，操作简单

可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。

●全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测●硬件&软件均为创新设计●作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援●实现高精度测量（已取得专zhuan利）●实现高速测量（500万点以上/分）

●采用线扫描方式检测整面薄膜●硬件&软件均为创新设计●作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援●实现高精度测量（已获取专zhuan利）●实现高速测量●不受偏差影响●可对应宽幅样品（TD方向最大可测量...

●通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量●从配光上评估紫外光的最大发光强度、光束开度、光束光通量●涵盖从紫外线到可见光的波长范围●支持从 LED 芯片到模块和应用产品的广泛样品●用软件批量控制电源和测...

●该检测器是一种高性能的分光光度计，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等方面取得了多项成果。●覆盖从紫外线到可见光的宽波长范围●带软件的样品照明电源，测量仪器批量控制●LIV测量，脉冲点测量，样品温...

●具有高灵敏度检测器的宽测量范围●具有紫外线自吸收校正的高精度测量●配备温度控制单元，可从-110°C进行温度控制●涵盖从紫外线到可见光的波长范围●电源、温控单元、测量仪软件批量控制

采用了偏光光学系和多通道分光检出器有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备

采用了偏光光学系和多通道分光检出器有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备

●可在紫外和可见（250至800nm）波长区域中测量椭圆参数●可分析纳米级多层薄膜的厚度●可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱●通过可变反射角测量，可详细分析薄膜●通过创建光学...

●可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量●测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准●采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量●测量部分的尺寸（积分球或积分半球）从φ25...