太阳能电池量子效率测试系统• Oriel 的 QEPVSI-b 是用于测量量子效率 （QE）（也称为入射光子到电荷载流子效率 （IPCE）） 的预配置而灵活的解决方案。行业领.先的组件 确保精度和可...

Oriel Sol3A 太阳光模拟器采用单灯设计，满足全部 3A 级性能标准，而不影 响其 1 个太阳光强输出功率。按照惯例，AAA 级的第.一个字母代表光谱匹配 度，第二个字母代表辐照均匀性，第三个...

光电流成像是一种用于表征材料或器件的光电特性的成像技术。该技术通过在器件或材料表面照射光源，并测量其产生的电流信号，来获得材料或器件的空间分布信息。

S-DSR探测器光谱响应测试系统• 宽光谱范围（200~14000nm可选），适用面广• 调制法测量技术，提升测量结果信噪比• 开机即用的Turnkey系统设计，维护简单• 监视光路，方便样品定位• ...

光谱变温附件/探针台THMS600 是使用.为广泛的高精度冷热台。其宽泛的温度范围（-196°C到 600°C）和升温速 率（0.1 到 150°C/min），以及高精度...

波铭科仪销售的多种SERS增强试剂、SERS芯片，均是经过严格反复试验、验证、摸索制备而成，各项性能指标都很优 良，能满足大多数生物分子、染料分子及其他分析物分子的拉曼检测，稳定性高，拉曼增强效应强。

QE-2000荧光量子效率测试系统瞬间测量绝.对量子效率。适用于粉末、溶液、固体（膜）、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器，大大减少了紫外区域 的杂散光。

S-MPL系列显微荧光成像系统光致发光（photoluminescence）即PL，是用紫外、 可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半 导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波 长如325n...

组合荧光系统采用模块化设计，既可实现稳态、瞬态测量，又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择（光源、探测器、样品架、变温模块等），能针对研究者实验的不 同需求量身打造为...

镜头透过率测试系统测量光学镜头的光谱透过率（光学镜头透过率>10%）,镜头透过率测试系统测镜头口径：?0-?20mm，镜头长度200-600mm

漫反射率测试系统光度测量准确度：1%以内（紫外-可见区），2%以内；（近红外区）,漫反射率测试系统光度测量重复性：1% (450nm-1800nm) ；测试试样尺寸(典型)：直径大于15mm，若同时测...

S-AS系列常规样品反射、吸收系统•透射、反射 / 吸收率是光学元件（如光学材料、滤光片、镀膜等）与多种生活材料（玻璃、布料、汽车贴膜等）的重要光学特性指标， 我司S-AS 系列 透射、反射 / 吸收...