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WT-2000半导体多功能测试

简要描述:WT-2000提供349nm,904nm,1064nm,1550nm等不同激发光,适合Si,SiC,GaAs,CdZnTe,InGaAs等各种材料电学参数测试。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-09-26
  • 访  问  量:113

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详细介绍

品牌波铭科仪价格区间面议
应用领域医疗卫生,环保,食品,生物产业,综合

· Measurement Options.
· μ-PCD 技术做少子寿命扫描测试
· 表面光电压(SPV)做扩散长度面扫描测试
· 光诱导电流(LBIC)测试材料缺陷分布
· 测试特定金属杂质和沾污:Fe
· 涡流法测试电阻率
· 4探针测试电阻率

WT-2000半导体多功能测试





上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展,上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度,客户遍布全国。我们将继续努力,不断提升市场地位和影响力。

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