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线扫描膜厚仪(离线型)

简要描述:●全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测

●硬件&软件均为创新设计

●作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援

●实现高精度测量(已取得专zhuan利)

●实现高速测量(500万点以上/分)

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-09-26
  • 访  问  量:191

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详细介绍

品牌OTSUKA/日本大冢

产品信息

式样

线扫描膜厚仪(离线型)

测量案例

250mm宽的薄膜案例

 








上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展,上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度,客户遍布全国。我们将继续努力,不断提升市场地位和影响力。

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