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详细介绍
| 品牌 | OTSUKA/日本大冢 |
|---|
| 膜厚范围 | 0.1～300 μm |
| 测量幅度 | 500 mm～最大10 m |
| 测定间隔 | 1 ms～ |
| 装置大小(W×D×H） | 81×140×343 mm |
| 重量 | 4 kg(仅头部) |
| 最大功耗 | AC100 V±10% 125VA |
500mm宽的包装薄膜
上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展，上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度，客户遍布全国。我们将继续努力，不断提升市场地位和影响力。
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