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  • 少子寿命/ μ LBIC变温测试系统

    WT-2000MCT/μ LBIC 适用于对超低温有特殊要求的材料,比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等,它已被广泛用于化合物材料的缺陷,杂质和光电效率等参数表征。

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • WT-2000半导体多功能测试

    WT-2000提供349nm,904nm,1064nm,1550nm等不同激发光,适合Si,SiC,GaAs,CdZnTe,InGaAs等各种材料电学参数测试。

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • WT-1200A 单点式少子寿命测试系统

    WT-1200A 是单点式少子寿命测试系统,具备无接触等优点。

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • 半导体参数分析仪

    半导体参数分析仪型号有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • PNA系列、ENA、PXI VNA网络分析仪

    网络分析仪主要特性和功能:$n· 具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案$n· 可以作为单个产品解决方案一次性购买$n· 对器件施加精确的调平功率,进行功率扫描$n· 提供各种应用软件,帮助您进行详细分析

    更新日期:2024-09-26
    型号:PNA系列、ENA、PXI VNA
    厂商性质:生产厂家
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