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  • 深能级瞬态谱测试仪

    深能级瞬态谱仪(DLTS)是检测半导体材料和器件缺陷和杂质的最好技术手段,它可以测定各种深能级相关参数,如深能级,俘获界面,浓度分布等。

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • 纳米压痕测试设备

    对小体积样品材料力学性质进行定量化测试的关键技术。

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • 拉曼光谱分析

    拉曼光谱用来测试材料应力,掺杂浓度和sheet& pattem等。从散射光的能量转移,强度和偏振等方面可以获取样品丰富信息,如:结晶取向,组分,机械应力,掺杂和温度变化等。

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • 原子力显微镜

    原子力显微镜使用非常小的探针,扫描样品表面,在原子尺度探测样品形貌。Semilab的AFM设备,可灵活配置和测试,具备优异测试稳定性和可靠性。

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • 反射谱成像技术

    iSR是一种微光斑测试技术,用于实时刻蚀和Halftone工艺中的厚度测试

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • 光谱型椭偏仪

    光谱型椭偏仪是多功能薄模测试系统,适合各种薄材料的研究。

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
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