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S-DSR探测器光谱响应测试系统 • 宽光谱范围（200~14000nm可选），适用面广 • 调制法测量技术，提升测量结果信噪比 • 开机即用的Turnkey系统设计，维护简单 • 监视光路，方便样品定位 • 全反射光路设计，优化光斑质量 • 高稳定性光源，降低背景噪声影响 • 标准测量软件，数据导出格式支持第三方软件
光谱变温附件/探针台 THMS600 是使用.为广泛的高精度冷热台。其宽泛的温度范围（-196°C到 600°C）和升温速 率（0.1 到 150°C/min），以及高精度（全程 0.1°C）和高稳定（0.01°C），使其在各行业得 到广泛的应用。
QE-2000荧光量子效率测试系统瞬间测量绝.对量子效率。适用于粉末、溶液、固体（膜）、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器，大大减少了紫外区域 的杂散光。
S-MPL系列显微荧光成像系统 光致发光（photoluminescence）即PL，是用紫外、 可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半 导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波 长如325nm、532nm、785nm等）激发材料（如 GaN、ZnO、GaAs等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽 度等。
组合荧光系统采用模块化设计，既可实现稳态、瞬态测量，又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择（光源、探测器、样品架、变温模块等），能针对研究者实验的不 同需求量身打造为合适的荧光光谱系统。
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