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  • OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目: • 绝.对反射率测量 • 多层膜解析 • 光学常数分析(n:折射率,k:消光系数)

    更新日期:2024-09-25
    型号:OPTM 系列
    厂商性质:生产厂家
  • 高速相位差测量装置 RE-200

    ● 可测从0nm开始的低(残留)相位差 ● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) (相当于世界jie最zui快速的0.1秒以下来处理) ● 无驱动部,重复再现性高 ● 设置的测量项目少,测量简单 ● 测量波长除了550nm以外,还有各种波长 ● Rth测量、全quan方位角测量 (需要option的自动旋转倾斜治具 ● 通过与拉伸试验机组合,可同时评价膜的偏光特性和光弾性 (本系统属特注。)

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • 高速LED光学特性仪 LE series

    ●与产线的控制信号同步 ●通过光纤的自由的测试系统 ●实现最短2ms~的光谱测量(LE-5400) ●同以往的产品相比,测量演算评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • 高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE-5000

    可以测量0.01%或更低的单线态氧的产生量子产率。 单线态氧 (1270 nm) 的简单直接光谱观察 可在用于生物应用等的水性溶剂中测量。

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • 高感度分光辐射亮度计 HS-1000

    采用具有高亮度和色度精度的光谱方法(衍射光栅), 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可测量, 对应CIE推荐的宽波长范围(355 nm至835 nm) 独du特光学系统降低偏振误差(1%), 并且像LCD一样具有偏振特性的样品也可以进行高精度测量 可以执行最短1秒的高速测量,包括通信时间。 (在连续测量的情况下,可以更快的进行测量,最短约20毫秒/次)

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • 量子效率测量系统 QE-2100

    测量精度高 可瞬间测量绝对量子效率(绝对量子收率) 可去除再激励荧光发光 采用了积分半球unit,实现了明亮的光学系统

    更新日期:2024-09-26
    型号:
    厂商性质:生产厂家
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