显微分光膜厚仪是一种广泛应用于光学材料研究和工业生产领域的高精度仪器，其主要功能是测量薄膜的厚度。
其主要特点包括：
(1)高精度：采用精密仪器算法，能够实现亚纳米级的膜厚测量，保证了测量结果的准确性和可靠性。
(2)非接触式测量：薄膜在测量过程中无需直接接触仪器，避免了外力对样品造成的影响，同时保护了样品的完整性。
(3)快速测量：具有快速的测量速度，可实时显示膜厚数据，并能够进行自动化扫描和测量。
使用膜厚仪之前，需要先清洁检测头，避免灰尘或油脂对测试结果的干扰。清洁时应注意以下事项：
1. 手柄和测试头禁止强烈碰撞、振动或撞击，以免影响测量精度。
2. 使用专用布清洁，禁止使用含有溶剂或刺激性强的清洁剂。
3. 清洁时应轻轻擦拭，防止损伤检测头。如果不慎弄脏了检测头，可用湿纸巾擦拭，但需注意不要使用含水分的清洁剂或水。
存放膜厚仪时需注意以下事项：
1. 将膜厚仪放置在清洁、干燥、不受阳光直射和高温潮湿影响的地方。
2. 对于不使用的膜厚仪，需将电池取出。
3. 长期不使用的膜厚仪需进行定期充电，保证电池的寿命和稳定性。
在线留言